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開(kāi)關(guān)電源穩(wěn)定性的設(shè)計(jì)與測(cè)試！
眾所周知，任何閉環(huán)系統(tǒng)在增益為單位增益1，且內(nèi)部隨頻率變化的相移為360°時(shí)，該閉環(huán)控制系統(tǒng)都會(huì)存在不穩(wěn)定的可能性。
2019-06-17
開(kāi)關(guān)電源 穩(wěn)定性 設(shè)計(jì) 測(cè)試
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電容充放電原理
電容是一種以電場(chǎng)形式儲(chǔ)存能量的無(wú)源器件。在有需要的時(shí)候，電容能夠把儲(chǔ)存的能量釋出至電路。電容由兩塊導(dǎo)電的平行板構(gòu)成，在板之間填充上絕緣物質(zhì)或介電物質(zhì)。圖1和圖2分別是電容的基本結(jié)構(gòu)和符號(hào)。
2019-06-17
電容 充放電 原理
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MOS管寄生參數(shù)的影響和其驅(qū)動(dòng)電路要點(diǎn)
我們?cè)趹?yīng)用MOS管和設(shè)計(jì)MOS管驅(qū)動(dòng)的時(shí)候，有很多寄生參數(shù)，其中最影響MOS管開(kāi)關(guān)性能的是源邊感抗。寄生的源邊感抗主要有兩種來(lái)源，第一個(gè)就是晶圓DIE和封裝之間的Bonding線的感抗，另外一個(gè)就是源邊引腳到地的PCB走線的感抗（地是作為驅(qū)動(dòng)電路的旁路電容和電源網(wǎng)絡(luò)濾波網(wǎng)的返回路徑）。在某些情況下...
2019-06-17
MOS管 寄生參數(shù) 驅(qū)動(dòng)電路
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阻抗匹配的基本原理及設(shè)計(jì)方法
阻抗匹配（Impedance matching）是微波電子學(xué)里的一部分，主要用于傳輸線上，來(lái)達(dá)至所有高頻的微波信號(hào)皆能傳至負(fù)載點(diǎn)的目的，幾乎不會(huì)有信號(hào)反射回來(lái)源點(diǎn)，從而提升能源效益。
2019-06-12
阻抗匹配 基本原理 設(shè)計(jì)方法
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不只是一臺(tái)示波器！電源分析插件你真的會(huì)用了嗎？
開(kāi)關(guān)電源的質(zhì)量直接影響到產(chǎn)品的技術(shù)性能以及其安全性和可靠性。電源測(cè)試項(xiàng)目多，計(jì)算量大，統(tǒng)計(jì)繁瑣等問(wèn)題一直困擾著工程師們，為了解決這些問(wèn)題，今天就帶您走進(jìn)開(kāi)關(guān)電源測(cè)試的新世界。
2019-06-12
示波器 電源分析插件
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ADC關(guān)鍵性能指標(biāo)及誤區(qū)
由于ADC產(chǎn)品相對(duì)于網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品和服務(wù)器需求小很多，用戶和集成商在選擇產(chǎn)品時(shí)對(duì)關(guān)鍵指標(biāo)的理解難免有一些誤區(qū)，加之部分主流廠商刻意引導(dǎo)，招標(biāo)規(guī)范往往有不少非關(guān)鍵指標(biāo)作被作為必須符合項(xiàng)。接下來(lái)就這些誤區(qū)和真正的關(guān)鍵指標(biāo)做一些探討。
2019-06-10
ADC 性能 關(guān)鍵指標(biāo) 誤區(qū)
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保險(xiǎn)絲是不是真的足夠保險(xiǎn)
對(duì)于功率電子產(chǎn)品，設(shè)計(jì)上是有保險(xiǎn)絲的要求的，因?yàn)槲矣凶鯨ED調(diào)光電源，今天就以LED電源為例來(lái)說(shuō)一說(shuō)保險(xiǎn)絲的那些事兒，對(duì)于電源來(lái)說(shuō)，保險(xiǎn)絲是一個(gè)非常關(guān)鍵的元件，所以個(gè)人觀點(diǎn)的對(duì)錯(cuò)，就非常重要，如果我個(gè)人觀點(diǎn)有不對(duì)的地方，嚴(yán)重感謝朋友批評(píng)指正。
2019-06-10
保險(xiǎn)絲 功率電子產(chǎn)品
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傳感器電路抗干擾設(shè)計(jì)方案
傳感器電路通常用來(lái)測(cè)量微弱的信號(hào)，具有很高的靈敏度，如果不能解決好各類干擾的影響，將給電路及其測(cè)量帶來(lái)較大誤差，甚至?xí)蚋蓴_信號(hào)淹沒(méi)正常測(cè)量信號(hào)而使電路不能正常工作。
2019-06-10
傳感器電路 抗干擾 設(shè)計(jì)方案
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星載電子設(shè)備抗輻照分析及元器件選用
自1971年至1986年期間, 國(guó)外發(fā)射的39顆同步衛(wèi)星因各種原因造成的故障共計(jì)1 589 次, 其中與空間輻射有關(guān)的故障有1 129次, 占故障總數(shù)的71%, 由此可見(jiàn)衛(wèi)星和航天器的故障主要來(lái)源于空間輻射。
2019-06-10
星載 電子設(shè)備 抗輻照 元器件 選用
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